近日，廣皓天與中國某研究所正式達成戰略合作，聯合共建 “芯片環境測試中心”。該中心聚焦車規級、工業級芯片的環境可靠性驗證，其中廣皓天自主研發的大型高低溫試驗設備憑借精準控溫能力與穩定性能，成為芯片溫度測試環節的核心驗證設備，為我國芯片自主研發提供關鍵測試支撐。

相較于傳統測試設備，廣皓天為該中心定制的大型高低溫試驗設備具備三大核心優勢：一是控溫精度達 ±0.5℃，可模擬高海拔、極寒地區等復雜環境下的溫度波動，精準捕捉芯片參數變化；二是設備腔體容積達 500L，支持多批次芯片同步測試，且配備多通道數據采集系統，能實時記錄不同溫度段下芯片的電流、電壓、信號傳輸等關鍵數據；三是搭載抗電磁干擾模塊，避免測試過程中外部信號對芯片性能數據的干擾，確保驗證結果的準確性。

“在車規級芯片低溫可靠性測試中，廣皓天的大型高低溫試驗設備表現尤為突出。” 中科院該研究所項目負責人介紹，“我們曾通過該設備對某款車規 MCU 芯片進行 - 40℃至 125℃的循環沖擊測試，設備連續運行 3000 小時，精準輸出芯片在溫度驟變下的穩定性數據，為芯片設計優化提供了重要依據。” 目前，該中心已通過大型高低溫試驗設備完成 12 款國芯片的環境可靠性驗證，其中 3 款芯片成功通過車規認證，進入車企供應鏈。