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大型高低溫試驗設備芯片封裝
簡要描述:

同時,電磁屏蔽模塊抑制外界干擾,傳感器實時采集芯片封裝焊點溫度與環境溫度,動態調整輸出,確保測試環境穩定。大型高低溫試驗設備芯片封裝

型號:THC-225PF

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更新時間:2025-09-06

價格:65800

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大型高低溫試驗設備芯片封裝
品牌廣皓天產地國產
是否防爆常規型溫度范圍常規型
制冷方式壓縮機制冷溫度范圍-70℃~150℃
濕度范圍10%~98%RH外殼材料SUS304不銹鋼

生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

大型高低溫試驗設備芯片封裝

工作原理

基于 “精準控溫 + 抗干擾環境模擬" 設計,溫度控制系統根據芯片封裝測試曲線(如 - 55℃~125℃溫變循環),指令復疊式制冷系統與分布式加熱模塊協同工作:制冷時雙回路壓縮機壓縮環保制冷劑,通過微通道蒸發器快速降溫;加熱時采用薄膜加熱片均勻升溫,配合雙側均流風道形成氣流循環。

大型高低溫試驗設備芯片封裝


大型高低溫試驗設備芯片封裝

產品優勢

  1. 電磁屏蔽等級達 EMC Class B,避免干擾芯片封裝電性能測試,數據準確性提升 40%;

  1. 溫度均勻度≤±0.5℃,精準控制芯片封裝各焊點溫差,保障可靠性測試結果;

  1. 快速溫變能力(-40℃~85℃僅需 35 分鐘),縮短芯片封裝循環測試周期 30%;

  1. 內箱采用防靜電材質,防止靜電損傷芯片封裝,測試良率提高 25%;

  1. 支持與芯片測試系統(ATE)聯動,實現溫變與電性能測試同步,自動化程度高。

  2. 大型高低溫試驗設備芯片封裝

用途
專為芯片封裝測試設計,可開展:芯片封裝高低溫循環可靠性測試(驗證焊點疲勞壽命);溫度下封裝密封性測試(防止水汽侵入);高溫老化測試(評估封裝材料穩定性);低溫啟動性能測試(模擬寒冷地區使用場景),滿足 JEDEC JESD22-A104、IPC-9701 等芯片封裝行業標準,適配 CPU、GPU、功率芯片等各類封裝形式測試。
技術參數

溫度范圍 - 60℃~150℃;溫度波動度≤±0.2℃,均勻度≤±0.5℃;升溫速率 6℃/min(-40℃~85℃),降溫速率 4℃/min(85℃~-40℃);工作室容積 300L~1500L;電磁屏蔽等級 EMC Class B;防靜電等級≤10^6Ω;電源 380V/50Hz,功率 12kW~60kW;數據采樣頻率 100Hz,支持與 ATE 系統同步。







溫度控制系統

采用 PLC + 模糊 PID 雙閉環控制,搭配 4 組高精度 PT100 傳感器(風道、芯片表面、工作室上下區),實時補償溫度偏差;支持 150 段程序編輯,可模擬 “-55℃(2h)→升溫至 25℃(1h)→125℃(2h)" 等芯片封裝測試曲線;內置超溫保護回路,芯片溫度超閾值時 1 秒內切斷加熱,保障測試安全。


產品特點
  1. 內箱防靜電涂層 + 接地設計,適配芯片封裝靜電敏感需求;

  1. 配備芯片供電接口(3.3V/5V/12V 可選),支持測試中持續供電;

  1. 觀察窗采用防電磁干擾玻璃,便于監測試樣且不影響測試環境;

  1. 模塊化結構,可擴展濕度控制功能,滿足芯片封裝溫濕度復合測試;

  1. 支持遠程監控與數據導出,適配芯片測試自動化流程管理。




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