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測試過程中樣品受潮損壞,快溫變小型高低溫試驗箱需要額外配除濕功能嗎?

點擊次數:63 更新時間:2025-10-14
一、樣品受潮的核心原因:溫變與濕度的隱性關聯

快溫變小型高低溫試驗箱在實現 - 70℃至 180℃寬域溫變時,箱內空氣濕度會隨溫度波動發生顯著變化:當設備從高溫快速降溫至露點以下(如從 60℃降至 20℃),空氣中的水蒸氣會凝結成液態水,附著在樣品表面或測試夾具上;若測試樣品為電路板、鋰電池極片等吸濕性材料,水分滲透后可能引發短路、容量衰減等問題。某電子企業曾在無除濕功能的快溫變小型高低溫試驗箱中測試傳感器,僅 3 次溫變循環后,樣品因受潮出現信號漂移,直接導致測試報廢。

 

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需注意的是,并非所有測試場景都需除濕功能:若樣品本身具備防水特性(如密封外殼的汽車零部件),或測試標準僅要求溫度循環(無濕度指標),基礎款快溫變小型高低溫試驗箱即可滿足需求;但當測試涉及 “溫濕度綜合循環”(如 IEC 60068-2-30 標準),或樣品為半導體芯片、新能源電池材料等濕度敏感件時,除濕功能成為必要配置。


 

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二、除濕功能的兩種配置方案:適配不同測試需求
針對快溫變小型高低溫試驗箱,行業主流除濕方案分為兩類,用戶可根據需求選擇:
  1. 低溫冷凝除濕:利用設備制冷系統,將箱內空氣溫度降至露點以下,使水蒸氣凝結成水后通過排水孔排出。該方案成本較低,濕度控制范圍為 20%-95% RH,適用于對濕度精度要求不高的場景(如汽車零部件溫濕度循環測試),可直接集成在現有快溫變小型高低溫試驗箱中,無需大幅改造設備結構。

  1. 轉輪除濕:通過蜂窩狀除濕轉輪吸附空氣中的水分,再經高溫再生段將水分排出,濕度控制精度可達 ±3% RH,能實現 5% RH 的低濕度環境。該方案適配高精度測試需求(如半導體芯片的濕熱老化測試),需在快溫變小型高低溫試驗箱內部增加轉輪模塊與風道系統,雖成本較高,但能滿足嚴苛的濕度控制標準。

 

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三、配置建議:從測試需求出發的決策邏輯
用戶在判斷是否為快溫變小型高低溫試驗箱配置除濕功能時,可遵循三步決策法:
  1. 查標準:優先參考測試依據的行業標準(如電子類產品看 GB/T 2423.4,電池類看 GB/T 31485),若標準明確要求溫濕度協同控制,必須配置除濕功能;

  1. 看樣品:分析樣品的濕度敏感性 —— 若樣品在濕度>60% RH 環境下易失效(如紙質基材、金屬鍍層件),建議配置除濕功能;

  1. 算成本:對比 “除濕功能投入” 與 “樣品損壞損失”,若單次測試樣品價值較高(如航空航天用傳感器),配置除濕功能可大幅降低測試風險,長期更具經濟性。