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恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試
簡要描述:

設備是半導體芯片研發、質量認證與可靠性篩選領域中關鍵工具,為提升芯片產品的市場競爭力提供了強有力的技術保障。恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試

型號:TEB-600PF

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更新時間:2025-09-25

價格:79560

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恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試
品牌廣皓天產地國產
升溫時間士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士內體材料不銹鋼板(SUS304CP種,2B拋光處理)
制冷方式機械式雙級壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器)溫度范圍-70°C~+150°C
降溫時間非線性升溫速率( 5°C/10°C/15°C/20°C/25°C)線性升溫速率(5°C/10°C/1

生產廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品。

恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試

溫度控制系統

采用超高精度PID智能控制器,配備高穩定性、低漂移的鉑電阻傳感器。系統具備強大的程序功能,可模擬從“雙85"靜態存儲到帶快速溫變循環的動態測試剖面。數據記錄功能能完整追蹤整個測試過程的溫濕度曲線,為失效分析提供可靠依據。


恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試





恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試

制冷系統

采用高性能機械壓縮復疊式制冷系統。針對“雙85"測試中高溫高濕環境下仍需強力除濕的特點,系統進行了專門優化,確保在高溫段也能提供強大的制冷能力,實現快速、精確的濕度控制,避免過沖。

加濕系統

采用鍋爐式蒸汽加濕方式,產生純凈蒸汽,避免因水質不純污染箱內環境或腐蝕芯片表面。除濕系統響應迅速,能快速達到并穩定維持所需的低濕條件(如進行干燥恢復測試)。


恒溫恒濕快速溫變試驗箱半導體雙 85 測試


產品優勢總結

  1. 精準可靠:為“雙85"測試量身定制的性能,確保測試條件的準確性與重復性,符合JEDEC等行業標準。

  2. 長期穩定:耐腐蝕材料和堅固結構保障設備在條件下長期連續運行。

  3. 數據可信:優異的均勻性和穩定性,確保每批芯片測試結果的可比性

  4. 高效靈活:快速的溫變能力不僅可用于穩態測試,還可進行高加速應力篩選,提升測試效率。

  5. 安全防護:完備的報警系統(超溫、低水位、漏電等)保護昂貴的芯片樣品與設備本身

 重要性:為何雙85測試對半導體芯片至關重要?

“雙85測試"(85℃溫度,85%相對濕度)是評估半導體芯片耐濕性、抗腐蝕性和長期工作可靠性的核心加速測試方法。它能快速暴露芯片封裝中的缺陷,如:

  • 封裝樹脂吸濕 導致的分層 和開裂。

  • 焊盤和引線 的電化學腐蝕。

  • 內部金屬化 的遷移和腐蝕。
    通過此測試,可以預判芯片在終端產品(如汽車電子、戶外設備)中的長期服役表現,是保證產品質量與可靠性的關鍵環節。




產品性能(核心技術參數)

  • 溫度范圍:-40℃ ~ +150℃ (重點優化+60℃至+130℃區間控制精度)

  • 濕度范圍:10% ~ 98% R.H. (確保能穩定精確地維持85%RH工況)

  • 溫變速率:可選配 ±3℃/min 至 ±10℃/min,滿足快速溫變應力篩選需求。

  • 溫度波動度:≤±0.3℃ (穩定性)

  • 溫度均勻度:≤±1.5℃ (確保所有芯片處于一致環境)

  • 濕度偏差:±1.5% R.H. (在85%RH點尤為關鍵)




設備亮點:專為芯片測試的高可靠性設計

本設備專為半導體行業的高標準可靠性測試而優化,核心亮點在于其長期運行穩定性、精確的溫濕度控制以及針對芯片測試的細節考量。設備能夠在85℃/85%RH 的高濕熱條件下進行長達數千小時的連續不間斷測試,內部結構采用全不銹鋼并經過特殊防腐處理,有效抵抗濕熱空氣的侵蝕,確保在整個測試周期內性能無衰減,為芯片的壽命評估和失效分析提供可靠的環境條件。



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