產(chǎn)品列表 / products

FPGA 主控單元實時比對設定溫變曲線與芯片實際溫度，通過 PID 算法動態(tài)調(diào)節(jié)制冷功率與加熱電流，實現(xiàn)芯片結(jié)溫的精準控制快速溫度變化試驗箱芯片可靠性

型號：TEB-800PF

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更新時間：2025-08-08

價格：56522

詳細介紹

品牌	廣皓天	產(chǎn)地	國產(chǎn)

生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設備致力于為消費者提供技術、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

快速溫度變化試驗箱芯片可靠性

產(chǎn)品性能

專為芯片可靠性驗證設計，在 - 65℃至 175℃溫區(qū)連續(xù) 1000 次循環(huán)測試后，溫度控制偏差仍≤±0.3℃，滿足芯片長期可靠性評估需求。溫變速率可達 25℃/min，從 - 55℃升至 125℃僅需 7.2 分鐘，且過沖量≤±1℃，避免溫度驟變對芯片內(nèi)部結(jié)構造成不可逆損傷。搭載 24 通道同步數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，采樣率達 2MHz，可實時捕捉芯片在溫變過程中的漏電電流、導通電阻等關鍵參數(shù)變化，數(shù)據(jù)記錄完整度達 99.99%。

快速溫度變化試驗箱芯片可靠性

快速溫度變化試驗箱芯片可靠性

產(chǎn)品詳情

采用全不銹鋼微腔體設計（容積 8-30L 可選），腔體內(nèi)壁覆有納米陶瓷涂層，耐高低溫腐蝕且不產(chǎn)生揮發(fā)物，避免污染芯片。配備防靜電真空吸盤式夾具，可適配 5mm×5mm 至 20mm×20mm 規(guī)格芯片，夾具與芯片接觸電阻≤0.1Ω，確保溫度傳導高效穩(wěn)定。設備集成 UPS 不間斷電源，突然斷電時可維持腔體內(nèi)溫度穩(wěn)定≥10 分鐘，防止測試數(shù)據(jù)丟失。

工作原理

基于 “熱應力加速老化" 原理，通過四級復疊制冷系統(tǒng)（R170/R23/R508B 混合冷媒）與碳纖維加熱膜協(xié)同作用，構建快速交變的溫度場。芯片通過導熱硅膠與溫控臺緊密貼合，溫度變化直接作用于芯片本體，配合 3D 立體風道消除腔體溫度梯度。

快速溫度變化試驗箱芯片可靠性

產(chǎn)品優(yōu)勢

支持 JEDEC JESD22-A104H 等 12 項芯片可靠性測試標準程序一鍵調(diào)用，測試流程合規(guī)性提升 60%。具備 “溫變 - 電參數(shù)" 同步分析功能，可自動生成失效概率曲線（Weibull 分布），縮短數(shù)據(jù)分析周期。采用磁懸浮壓縮機 + 變頻技術，能耗較傳統(tǒng)設備降低 40%，同時運行噪音≤55dB，符合實驗室環(huán)境要求。

快速溫度變化試驗箱芯片可靠性

用途

主要用于芯片高低溫循環(huán)測試（TC）、溫度沖擊測試（TS）、熱疲勞可靠性驗證等場景，可評估車規(guī)級 MCU、5G 射頻芯片、功率半導體等在溫變下的性能穩(wěn)定性，提前暴露芯片封裝開裂、鍵合線脫落、材料老化等潛在缺陷，為芯片量產(chǎn)前的可靠性篩選提供關鍵數(shù)據(jù)支撐。

快速溫度變化試驗箱芯片可靠性