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冷熱沖擊試驗箱 檢測芯片性能穩定
簡要描述:

冷熱沖擊試驗箱 檢測芯片性能穩定
是一款用于測試材料、零部件及電子產品等在快速溫度變化環境下耐受能力的專業設備。它通過在短時間內實現高溫與低溫之間的急劇切換,模擬各種溫度沖擊工況,從而評估被測對象的物理和化學性能變化、結構穩定性以及可靠性,廣泛應用于航空航天、汽車制造、電子電器、科研院校等眾多領域。

型號:TSD-100F-2P

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更新時間:2024-12-20

價格:45800

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冷熱沖擊試驗箱 檢測芯片性能穩定
品牌廣皓天產地國產


冷熱沖擊試驗箱 檢測芯片性能穩定



 技術參數:
1、溫度范圍:
高溫區:+60 ℃ ~ 200 ℃ 
低溫區:A/-10 ℃~-40 ℃ , B/-10 ℃~-60 ℃ , C/-10 ℃~-70 ℃
工作室:A/0 ℃~-40 ℃ , B/-10 ℃~-55 ℃ , C/-10 ℃~-65 ℃
2、溫度波動度: ±0.5℃
3、溫度均勻度:±3℃
4、溫度恢復時間:3~5min
5、高溫槽升溫速度:平均約5℃/min
6、低溫槽降溫速度:平均約1.5℃/min
7、高低溫暴露時間:30min以上
8、高低溫轉換時間:≤15秒

冷熱沖擊試驗箱 檢測芯片性能穩定


控制系統:

 冷熱沖擊試驗箱主控制器采用進口日本"OYO"雙回路高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。該控制器采用液晶顯示觸摸屏,可顯示設定參數、試驗曲線、運行時間、加熱器工作狀態,PID參數自整定功能。控制程序的編制采用人機對話方式,僅需設定溫度,可實現制冷機自動運行功能。控制系統具備完善的檢測裝置能自動進行詳細的故障顯示。報警,配置485通訊接口及運行軟件。設定精度:溫度:0.1℃ 時間:Is用戶程序容量:10×99段。運行方式:程序運行,恒定運行。獨立超溫保護儀表。設備工作時間累計計時器。低溫區、高溫區轉換時間小于等于15秒。 溫度恢復時間小于等于5分鐘。



設備結構


  • 三箱式結構:主要由高溫室、低溫室和測試室三個部分構成。高溫室可迅速升溫至設定高溫極值,如 150℃甚至更高,通過高效加熱系統和均勻風道設計,保證溫度分布均勻性。低溫室能夠精準降溫至零下幾十攝氏度,如 - 60℃左右,利用好制冷技術營造穩定低溫環境。測試室位于兩者之間,是放置樣品的核心區域,樣品可通過特殊吊籃或轉移裝置在極短時間內實現在高溫室和低溫室之間的快速轉移.

  • 箱體材質:外箱通常采用 SUS304#不銹鋼表面條紋處理,內箱也使用 SUS304# 不銹鋼,內部填充硬質聚氨酯泡沫和玻璃纖維等隔熱保溫材料,有效減少熱量散失,保證試驗箱內溫度的穩定性和均勻性.





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