可模擬電子元件在運(yùn)輸、存儲、使用中面臨的溫濕度變化，為芯片、傳感器、電容等元件的可靠性驗證提供核心支持，廣泛應(yīng)用于電子研發(fā)、質(zhì)檢及批量抽檢環(huán)節(jié)。快溫變小型高低溫試驗箱精準(zhǔn)控溫 ±0.5℃

型號：TEB-225PF

瀏覽量：347

更新時間：2025-09-12

價格：32000

詳細(xì)介紹

品牌	廣皓天	產(chǎn)地	國產(chǎn)
溫度范圍	-70°C~+150°C	升溫時間	士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士
外殼材料	防銹處理冷軋鋼板士2688粉體涂裝或SUS304不銹鋼	絕緣材料	硬質(zhì)聚氨酯泡沫塑料(箱體用)玻璃棉(箱門用)

生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品

快溫變小型高低溫試驗箱精準(zhǔn)控溫 ±0.5℃

核心用途

主要用于電子元件耐候性測試：驗證芯片在 - 40℃低溫啟動與 125℃高溫運(yùn)行的穩(wěn)定性；檢測傳感器在快速溫變（如 5℃/min 升溫）下的信號精度；模擬電容、電阻在高低溫循環(huán)中的性能衰減，提前暴露元件因溫濕度變化導(dǎo)致的短路、失效等問題，保障電子產(chǎn)品整機(jī)可靠性。

快溫變小型高低溫試驗箱精準(zhǔn)控溫 ±0.5℃

關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-40℃~150℃，濕度范圍 20% RH~98% RH（溫度≥10℃時）；

控溫精度：±0.5℃，溫度均勻度≤±2℃，溫變速率 5℃/min~15℃/min（可調(diào)節(jié)）；

工作室容積：10L~50L（小型化設(shè)計，節(jié)省實驗室空間）；

運(yùn)行方式：可連續(xù)運(yùn)行 1000h 以上，支持程序控制（100 組預(yù)設(shè)溫變曲線）。

快溫變小型高低溫試驗箱精準(zhǔn)控溫 ±0.5℃

核心系統(tǒng)解析

溫度控制系統(tǒng)

采用 “雙 PID 閉環(huán)控制 + 多點測溫" 技術(shù)：進(jìn)口鉑電阻傳感器（精度 ±0.1℃）實時采集工作室上、中、下三點溫度，數(shù)據(jù)反饋至控制器；PID 算法動態(tài)調(diào)整鎳鉻合金加熱管與散熱模塊功率，結(jié)合風(fēng)道優(yōu)化設(shè)計（背部循環(huán)風(fēng) + 多風(fēng)口出風(fēng)），確保溫度波動控制在 ±0.5℃內(nèi)，避免局部溫差影響測試結(jié)果。

制冷系統(tǒng)

搭載進(jìn)口雙級壓縮機(jī)與環(huán)保 R404A 制冷劑，采用 “快速降溫技術(shù)"：低溫工況下（如 - 40℃），壓縮機(jī)高效輸出冷量，配合蒸發(fā)器強(qiáng)制換熱；同時配備變頻冷卻風(fēng)機(jī)，根據(jù)制冷負(fù)荷自動調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)速，實現(xiàn) 15℃/min 的快速降溫，滿足電子元件快速溫變測試需求。

快溫變小型高低溫試驗箱精準(zhǔn)控溫 ±0.5℃

加濕系統(tǒng)

采用超聲波加濕技術(shù)，配合濕度傳感器實時監(jiān)測：通過高頻震蕩將水霧化成微小顆粒，均勻送入工作室；當(dāng)濕度低于設(shè)定值時，自動啟動加濕；高于設(shè)定值時，開啟除濕模塊，確保濕度控制精度 ±3% RH，模擬電子元件在高濕環(huán)境下的耐受性能。

設(shè)備亮點

精準(zhǔn)控溫：±0.5℃控溫精度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，適配電子元件對溫度敏感的測試需求；

小型高效：緊湊機(jī)身設(shè)計，占用空間小，同時溫變速率快，縮短測試周期；

智能便捷：7 英寸觸摸屏支持程序編輯與數(shù)據(jù)存儲，可導(dǎo)出測試報告，便于質(zhì)量追溯。

工作原理

設(shè)備通電后，根據(jù)預(yù)設(shè)測試程序，溫度控制系統(tǒng)調(diào)節(jié)加熱或制冷模塊，實現(xiàn)目標(biāo)溫度；加濕系統(tǒng)同步調(diào)節(jié)濕度；工作室通過循環(huán)風(fēng)道使溫濕度均勻分布；傳感器實時采集數(shù)據(jù)并反饋至控制器，動態(tài)修正參數(shù)，確保測試環(huán)境穩(wěn)定，最終模擬電子元件在不同溫濕度下的工作狀態(tài)，完成耐候性評估。