近日，廣東皓天檢測儀器有限公司聯合中國半導體測試技術創新聯盟（CSTIA）完成設備測評，旗下快溫變小型高低溫試驗箱憑借在半導體芯片環境可靠性測試中的優異表現，正式斬獲 “半導體測試設備推薦產品" 認證，成為西南地區獲此認證的精密溫變測試設備品牌，為半導體產業國產化測試提供新選擇。

此次認證測評中，該設備在三大核心指標上表現突出：一是溫變精度，15℃/min 高速溫變速率下，試驗艙內各點位溫差≤0.8℃，遠超半導體測試行業≤1.5℃的標準；二是溫域適配，-85~150℃寬溫域可覆蓋芯片封裝、車載半導體等多場景測試需求，其中 - 55℃~125℃常用區間控溫偏差穩定在 ±0.3℃；三是抗干擾設計，設備內置電磁屏蔽層，在半導體晶圓測試環境中，可避免外界信號對測試數據的干擾，數據重復性達標率達 99.2%。

據了解，為適配半導體場景，廣皓天還對設備進行定制化升級：針對芯片微小樣品測試，優化試驗艙內樣品固定裝置，支持多組芯片同步測試；搭載智能測試軟件，可與半導體測試系統（ATE）聯動，自動生成溫變 - 電性能關聯報告。某半導體芯片設計企業測試部經理反饋：“使用該設備后，芯片高低溫可靠性測試周期從 15 天縮短至 10 天，測試數據與進口設備吻合度達 98%。"