對精密電子、半導體樣品的影響：這類樣品（如芯片、傳感器）對雜質污染極為敏感。恒溫恒濕快速溫變試驗箱內膽的氧化斑點若在冷熱循環中脫落，細小的氧化物顆粒可能附著在樣品表面，導致樣品引腳接觸不良、電路短路，或干擾傳感器的信號采集，使試驗數據（如溫濕度耐受性、壽命評估）出現偏差。例如在模擬 - 40℃~125℃的車規芯片溫變測試中，氧化斑點脫落可能導致芯片測試合格率誤判，影響產品研發進度。

對普通電子、機械樣品的影響：對于結構相對簡單的樣品（如連接器、塑料外殼），輕微的氧化斑點（面積＜5%、無脫落風險）通常不會直接影響其性能測試。但當氧化斑點嚴重（大面積覆蓋、伴隨銹蝕）時，可能導致內膽溫濕度分布不均 —— 氧化斑點區域的熱傳導效率下降，局部溫度偏差從 ±1℃擴大至 ±3℃，影響恒溫恒濕快速溫變試驗箱的溫變精度，進而導致樣品測試條件不一致，試驗結果缺乏參考價值。