溫度控制精度下降：保溫層老化后，其隔熱性能大打折扣。在高溫測試階段，熱量易向外散失，導(dǎo)致箱內(nèi)實(shí)際溫度低于設(shè)定值；低溫測試時(shí)，外界熱量又容易傳入，使箱內(nèi)溫度高于目標(biāo)值。比如在進(jìn)行從 - 40℃到 120℃的快速溫變測試時(shí)，老化的保溫層可能致使高溫段溫度波動(dòng)超過 ±3℃，低溫段波動(dòng)超過 ±2℃，嚴(yán)重偏離設(shè)備正常的溫度控制精度范圍，無法滿足諸如電子元器件、航空航天零部件等對溫度精度要求測試需求，使測試結(jié)果失去可靠性。

溫變速率異常：快速溫變測試箱依靠高效的制冷制熱系統(tǒng)和良好的保溫結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)快速的溫度變化。保溫層老化會(huì)干擾這一過程，在升溫時(shí)，熱量泄漏導(dǎo)致升溫速率變慢，無法在規(guī)定時(shí)間內(nèi)達(dá)到目標(biāo)高溫；降溫時(shí)，外界熱量持續(xù)涌入，阻礙制冷系統(tǒng)快速降溫，使溫變速率難以達(dá)到設(shè)備標(biāo)稱的如 15℃/min 甚至更高的速率。以常見的電子產(chǎn)品可靠性測試為例，原本應(yīng)在 3 分鐘內(nèi)完成從常溫到 80℃的升溫過程，因保溫層老化可能延長至 5 分鐘以上，極大地影響測試效率與測試流程的準(zhǔn)確性。

能耗顯著增加：為維持箱內(nèi)溫度在設(shè)定范圍內(nèi)，面對保溫層老化導(dǎo)致的熱量散失或侵入，設(shè)備的制冷制熱系統(tǒng)不得不持續(xù)高強(qiáng)度工作。在低溫測試時(shí)，制冷壓縮機(jī)需消耗更多電能來對抗外界傳入的熱量；高溫測試時(shí)，加熱元件需不斷加大功率補(bǔ)償向外散失的熱量。據(jù)統(tǒng)計(jì)，保溫層老化嚴(yán)重時(shí)，設(shè)備能耗相比正常狀態(tài)可能增加 30% - 50%，長期運(yùn)行將帶來高額的電費(fèi)支出，增加企業(yè)運(yùn)營成本。

設(shè)備使用壽命縮短：制冷制熱系統(tǒng)長期處于高負(fù)荷運(yùn)行狀態(tài)，會(huì)加速壓縮機(jī)、冷凝器、蒸發(fā)器等關(guān)鍵部件的磨損。例如，壓縮機(jī)頻繁啟動(dòng)、停止以及長時(shí)間高功率運(yùn)轉(zhuǎn)，容易導(dǎo)致壓縮機(jī)的機(jī)械部件疲勞、密封性能下降，進(jìn)而引發(fā)制冷劑泄漏等故障；加熱元件長期超功率工作，其電阻絲易老化、斷裂。這些部件的損壞不僅增加維修成本，還可能因維修不及時(shí)導(dǎo)致設(shè)備停機(jī)，嚴(yán)重影響企業(yè)的生產(chǎn)與測試計(jì)劃，縮短設(shè)備整體的使用壽命。